存儲(chǔ)器IC測(cè)試儀。對(duì)DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即時(shí)的功能分析測(cè)試。提供多種測(cè)試模式。
zui高容量64MB，zui寬144位，且成本低廉全可編程。  

主要功能：  

    IST6500型存儲(chǔ)器功能參數(shù)測(cè)試儀
在2NS基頻下，提供四種方法自動(dòng)測(cè)試存取時(shí)間 在2NS到160NS的各種器件（DRAM定時(shí)參數(shù)可編程提供1NS的基頻）從而實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)試。
兼?zhèn)溆懈咚匐p通道閾值比較器的可編程動(dòng)態(tài)加載，允許用戶(hù)編程DUT輸出口負(fù)載，以達(dá)到一個(gè)寬的工作范圍。這一特性在SIMN器件測(cè)試鐘尤其重要，因?yàn)楹笳唔毥?jīng)常驅(qū)動(dòng)，大容量小電阻的負(fù)載。 

　　6500通過(guò)RS-232與PC機(jī)接口，器機(jī)械手接口具有“料箱排序”功能，可將器件按照選定的工作參數(shù)進(jìn)行排序，這在工程元件特性或GO/NO GO測(cè)試中很具有典型意義。 IST6500易于編程，且存儲(chǔ)有100個(gè)不同的用戶(hù)自定義測(cè)試路徑，提供了器件的各種工作參數(shù)包括存取時(shí)間，工作電流，備用電流，數(shù)據(jù)保持電流，輸出負(fù)載，DUT電流源，定時(shí)參數(shù)，測(cè)試模式及邏輯閾值的自動(dòng)引導(dǎo)測(cè)試或GO/NO GO測(cè)試，同時(shí)引導(dǎo)GO/NO GO 測(cè)試的參數(shù)的預(yù)置極限也可存儲(chǔ)在程序里。 

　　6500具備一系列完善的存儲(chǔ)測(cè)試模式，并向用戶(hù)提供短/長(zhǎng)兩種測(cè)試模式，它能在zui短的時(shí)間內(nèi)完成絕大多數(shù)RAM指標(biāo)的檢測(cè)。數(shù)據(jù)測(cè)試模式包括：
全1，全0，方格噪聲模式，步1，步0，列干擾，滑動(dòng)斜行，移動(dòng)倒置，這些模式能檢測(cè)存儲(chǔ)器芯片上及其他地址上的短路，開(kāi)路或單值錯(cuò)誤，也能檢測(cè)芯片干擾，信號(hào)轉(zhuǎn)換放大器干擾及噪聲靈敏度錯(cuò)誤。 

主要性能指標(biāo)：  

　　*可測(cè)試DRAM，SRAM，SIMN，VRAM器件（容量可高達(dá)64MB）的同步電流，輸出驅(qū)動(dòng)，閾電壓，電源邊界參數(shù)。
*DRAM定時(shí)參數(shù)測(cè)試可以編程到1NS或“自動(dòng)定時(shí)尋找”。
*提供刷新測(cè)試，基本，快速檢測(cè)，密集或用戶(hù)定義的測(cè)試模式。
*錯(cuò)誤停止/錯(cuò)誤步進(jìn)，顯示錯(cuò)誤地址及錯(cuò)誤位。
*測(cè)試回路內(nèi)部自動(dòng)轉(zhuǎn)換不需要位每個(gè)測(cè)試器件裝配分立模塊。
*通用主機(jī)及插入式家用模塊設(shè)計(jì)，可根據(jù)內(nèi)存器件的變化隨時(shí)進(jìn)行擴(kuò)充。
*支持DIP，ZIP，SOJ，SIP，PLCC，TSOP多種封裝。
*后備電池支持的RAM存儲(chǔ)了100個(gè)用戶(hù)程序，用以各器件的特性的特性測(cè)試，因而提供 了“一次性操作”。
*配有232接口可獨(dú)立操作或與PC聯(lián)機(jī)操作，也可連接機(jī)械手對(duì)器件分類(lèi)篩選。
*自動(dòng)參數(shù)的缺省值允許瞬時(shí)“單鍵”測(cè)試。
*測(cè)速高達(dá)0.9SEC/MB/模式的DMA高速硬件測(cè)試電路.